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不溶性微粒檢測(cè)儀
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PSS不溶性微粒檢測(cè)儀(Single Particle Optical Sizing)實(shí)現(xiàn)了對(duì)分散體系中的不溶性微粒量化計(jì)數(shù)。其對(duì)于微米級(jí)大小的顆粒的粒度表征在準(zhǔn)確性上有劃時(shí)代的意義。美國(guó)PSS粒度儀公司的SPOS技術(shù)更是結(jié)合了光阻效應(yīng)和光散理論,將顆粒計(jì)數(shù)的下限下探到0.15μm(150nm)。
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