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泰思肯VEGA鎢燈絲掃描電子顯微鏡，采用全新的 Essence™ 電鏡操控軟件系統，將掃描形貌圖像與元素實時分析集成于同一個掃描窗口中。這種組合大大簡化了樣品表面形貌的采集及含元素的數據分析工作，使得第四代 VEGA SEM 成為質量控制、故障分析和研究實驗室中常規材料等檢測提供更高效的分析的解決方案。
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